名称 : 不同功率Si靶作用下膜层XRD图谱
英文名称 : XRD patterns of thin films under different Si target powers.
材料 : 2164
委托单位 : 西安工业大学
实验单位 : 西安工业大学
实验方法 : XRD测试
实验设备 : XRD
实验条件 : 洁净无尘
说明 : 本数据展示了在不同Si靶溅射功率下的高熵氮化物薄膜,其各自的XRD衍射图谱。
英文说明 : This data presents the XRD diffraction patterns of high-entropy nitride films under different Si target sputtering powers.
数据来源 : 分析测试报告
重点项目名称 : 离子轰击条件下反应磁控沉积高熵合金氮化物薄膜技术研究与开发
项目所属数据集 : 2022YFE0122900分析测试报告数据集