名称 : 0%含量Si的ta-C薄膜的C1s分峰拟合图
英文名称 : XPS,0% Si,C1s
材料 : 1649
委托单位 : 科学指南针
实验单位 : 科学指南针
实验方法 : XPS
实验设备 : Esca Lab 250Xi X 射线光电子能谱仪
实验条件 : 室温
说明 : 0%含量Si的ta-C薄膜的C1s分峰拟合图
英文说明 : C1s sub-peak fitting of ta-C films with 0% Si content
重点项目名称 : 新型带有反向正脉冲的高功率脉冲磁控溅射技术开发高硬度无氢四面体非晶碳涂层-课题2(2)
项目所属数据集 : 2019YFE0123900-004数据集