针对当前废旧智能装备电子单元缺乏行之有效的寿命评估技术，难以为其再制造提供辅助决策的技术难题，开展服务器产品部件级以及零件级的寿命评估方法研究。在分析部件级产品的多寿命特征基础上，构建了基于多寿命分析方法的电子单元再制造寿命评价模型，并以服务器硬盘作为部件级产品典型研究对象，开展基于加速性能退化试验的固态硬盘寿命评估研究，验证了电子单元再制造寿命评价模型的可行性，为电子单元再制造寿命评估提供了理论依据和技术支撑；针对零件级寿命评估难题，基于有限元分析方法，对服务器零件级产品进行多物理场耦合仿真，在功率循环条件下完成焊料层疲劳寿命预测并对器件在不同失效形式下的特征量变化规律以及失效演化过程进行了分析研究。将导通压降作为表征MOSFET剩余寿命的参量，提出了电子元器件的PSO-ELM剩余寿命预测模型，并以MOSFET器件为研究对象，开展加速老化试验分析，验证了PSO-ELM模型在MOSFET剩余寿命预测方面的准确性。为电子单元零件级寿命预测提供了技术支撑。