系统地研究了铜含量对新型无硅Fe84-xB9P3C4Cux(x = 0.7、0.9、1.1、1.3和1.5)合金的非晶形成能力(AFA),晶化行为和软磁性能的影响。 XRD测试的相结构表明,该合金的Cu含量小于1.3 at.% 时,合金具有好的AFA。不同Cu含量合金形核和长大的激活能表明,对于Cu≤1.1 at.%的合金薄带,α-Fe晶粒的长大比形核更困难,这有利于在晶化退火期间获得更细的纳米晶α-Fe晶粒,而对于Cu> 1.1at.%,α-Fe晶粒的长大比形核容易。矫顽力(Hc)与退火温度(Ta)之间的关系表明,适当的Cu含量有利于改善软磁性能的稳定性,特别是当在第一晶化峰的温度附近退火时。纳米晶Fe82.9B9P3C4Cu1.1合金的饱和磁通密度为1.84 T〜1.85 T,在703 K〜763 K范围内退火的Hc较低,为13.0 A / m〜8.9 A / m。