一种用于检测嵌入式传感器的涂层的降解的设备和方法

 US 6911828 B1

    该方法涉及到到一种系统和方法去检测基地表面的图层的有效性，并且可以用来预测涂层能否保持表面免于腐蚀是否失效，降解以及相关的问题。这个系统爆扣了一个与涂层相接触的传感阵列，使用一系列的与单个集成电路或者是许多的的独立的传感器相连接的传感器电极。传感阵列的电极可以用于测量涂层的电化学阻抗并且通过遥感的方式像数据审讯设备传输数据，该设备通常放于靠近传感阵列的地方。数据审讯设备可以服务于传感阵列的能量并且还可以印发她去要求数据的传输。标称参数N可以用于直接的预测涂层的阻抗以及容量特性，并且直接预测涂层的有效性。

图一 该专利的大结构的一个简单的描述

 

图一中：

    12-衬底被涂覆于一个14-涂层，16-传感器通过放置于12-衬底的孔结构与电极相联系。40-数据询问装置结合这些16-“被动”传感器去触发它们的操作以及接收发送的数据的形式的响应。数据审核的过程包括一个从40-数据审核设备到16-传感器的42-初始的数据传输器，16-传感器用于假发44-传输器中的数据从16-传感器返回到40-数据审核设备中。

优点：

  该专利允许原位的监测涂层系统的保护情况，并且可以通过使用嵌入式电极阵列监测随后的失效情况。该发明的传感器阵列克服以前的尝试来测量在不需要于基板材料的电连接时的涂层完整性的限制。并且该专利不会对涂层的性能产生不利的影响。该发明的中系统可以使用现成的组件，集成电路制造方法和MEMS技术来进行制造。