直接电阻测量探测器

  US 7034553 B2

该专利是直接电阻测量探测器，可以用于测量腐蚀水平和物质损失。所述探针包括具有在一端被暴露在环境中的电阻元件的空心体。探针可以被连接到所述电阻元件的内部或外部电源。流量计测量电阻元件的电阻,电阻通过传感器提供腐蚀速率数据的可以被确定。温度感测装置测量电阻元件腐蚀的温度。压力感测装置测量电阻元件所在的环境所经受的压力。探头不需要使用比较或比例参考元素。

图一 该发明的一个运用案例

  该专利中的10-探针有一个密封的中空的结构，该结构由12A，12B-两片组成，12A-第一页限定在36-探针的第一端，12B-第二页限定在第二端。密封的中空结构的探针也可能由单页组成，对应的第二端的被配置用于附着装置，如一个插头或者凸缘。

中空体的单页或者是双页的使用都可以允许将36-探针的第一端放入环境中。

放入设备中的10-探针来检测将36-一端放入环境中的情况。12-中空体的两端都是密封的，因此可以保护中空体的内容不受环境干扰，O形环密封常用于探针的两片之间的密封。

10-探针中的电阻元件置放于36-第一端，并且有一面是直接暴露在环境中。如图二所示，电阻元件由电导金属元件（CME）组成。在一种应用案例中，CME是一种对称排列的平面带的结构。CME带的两端在中心区域相互靠近彼此，CME的形成与形状取决于探针的形状和组成。CME是由可以被检测到的相似的或者是可鉴别的金属材料构成，因此该专利允许用户去衡量CME的金属损失。CME的电阻可以通过施加电学激励测得，电学激励为用一个频率固定在100-300赫兹之间的可供选择的电流方波。

10-探针含有电源22-内电池，也可以加入外部电源，图一。也含有一个52-电阻测量模块去测量20-电阻元件的电阻。除此之外，10-探针还有30-温度传感器。温度传感器能够读出28-CME的实时温度，所以可以测量出相应的电阻。3探针中的32-压力传感器放置在靠近CME位置的环境中，可以提供实时关于环境温度的信息。

 

图二 电子元件的平面图

 

 

图二 电子器件的电学接触点和阻抗测量点