震动和探针移动对SVET测量的影响

实验所用SVET设备是美国Applicable Electronics Inc.公司的产品，其控制软件是美国Sciencewares公司的产品ASET 2.00。SVET设备的微电极是由美国Applicable Electronics Inc.公司生产的铂-铱绝缘聚合物微电极。直径为20 um的铂黑球被电镀到尖端上。微电极向两个方向震动，一个沿X轴方向，一个沿Z轴方向，感知两个方向的电场。然而，在腐蚀过程中，沿X轴方向的信号是很少用到的。X轴和Z轴方向的频率分别为115 HZ和69 HZ，其震动的振幅均为10 un。当到达一个新的测量点后，探针需要等待0.2 s，而在探针移动前，需要等待大于0.2 s的时间。探针距离样品距离在50-200 un的范围。

文章中所用SVET系统如图所示：

 

所用电化学电池：（a）外部极化的直径为1 mm铂片；（b）电流耦合的直径为1 mm的锌片和铁片

文章中主要集中研究了典型条件（探针尖端尺寸为10-20 um、振幅为10 um、探针与样品之间距离为50-200 um）下SVET的操作，分析了震动和探针移动对SVET扫描结果的影响。最终文章得出了一下结论：

1. 探针的震动会对O2的还原电流有影响，但影响效果比较小，在5%或者更小的范围内；

2. 探针的振幅越大、探针与样品之间距离越小，探针的震动影响效果越大；

3. 探针的移动影响比较重要，尤其是当探针穿过阴极区域时，会导致电流在10-30%程度的增加；

4. SVET探针只影响探针区域，且其影响会在几分钟之内消除；

5. SVET操作对系统的影响一般是不可见的，除非SVET的扫描是一直持续性的，SVET对样品长期的腐蚀是没有影响的；

6. 在溶液与样品相近时，由探针移动引起的对流问题在任何扫描探针上都会发生；

7. 在质传系统中，震动和探针移动对系统的影响会更为重要。