分析测试报告 |
50纳米观测条件下环氧树脂氧化锆切片 |
Epoxy zirconia section under 50 nm observation condition |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
分析测试报告 |
50纳米观测条件下环氧树脂氧化锆切片(2) |
Epoxy zirconia section under 50 nm observation condition(2) |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
分析测试报告 |
100纳米观测条件下环氧树脂氧化锆切片 |
Section of epoxy zirconia at 100 nm |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
分析测试报告 |
100纳米观测条件下环氧树脂氧化锆切片(2) |
Section of epoxy zirconia at 100 nm(2) |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
分析测试报告 |
TiO2 5wt%硅胶样品紫外原始数据 |
Uv raw data of TiO2 5wt% silica gel samples |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
分析测试报告 |
TiO2 10wt%硅胶样品紫外原始数据 |
Uv raw data of TiO2 10wt% silica gel sample |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
分析测试报告 |
TiO2 20wt%硅胶样品紫外原始数据 |
TiO2 20wt% silica gel sample uv raw data |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
分析测试报告 |
TiO2 30wt%硅胶样品紫外原始数据 |
Uv raw data of TiO2 30wt% silica gel sample |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
分析测试报告 |
TiO2 50wt%硅胶样品紫外原始数据 |
TiO2 50wt% silica gel sample uv raw data |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
分析测试报告 |
AFM观测钛箔上ZrO2涂层的形貌 |
AFM image of ZrO2 coating on titanium foil |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |