名称 : 200nm下AHP处理的1wt%氧化锆的TEM
英文名称 : TEM images for 1% the AHP-treated ZrO2 at 200 nanometers
材料 : 1107
委托单位 : 北京化工大学
实验单位 : 北京化工大学
实验方法 : TEM
实验设备 : TEM
实验条件 : 真空
说明 : 碱式氢氧化钠处理后的质量分数为1%的ZrO2纳米颗粒的TEM图
英文说明 : TEM image of ZrO2 nanoparticles treated with 1% mass fraction of basic sodium hydroxide
数据来源 : 透射电镜观察
重点项目名称 : 第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集